精密源测量新品前瞻：布局半导体测试全流程普源精电重构成长逻辑

格隆汇07-08

7月8日，国产电子测量龙头普源精电公布DSU2000系列台式精密源测量单元（SMU）及SUP5000系列PXIe高密度源测量系统。据悉，DSU2000系列是普源精电即将首次发布的台式精密源测量单元，面向半导体器件表征、光电测试、新能源研发及生产线自动化测试等场景，提供高功率、高速度、低噪声的精准源测量能力。SUP5000系列是一款高精度、高集成度的多通道源测量系统，可满足多通道、高密度的半导体产线...

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