专利摘要显示,本申请的实施例提供了一种半导体器件及其制造方法。制造半导体器件的方法包括:提供伪结构,伪结构包括设置在衬底上方的多个沟道层、设置在多个沟道层中的相邻沟道层之间的内部间隔件、以及插入多个沟道层并沿第一方向纵向延伸的栅极结构。形成第一沟槽,第一沟槽将栅极结构划分成区段,其中,第一沟槽在垂直于第一方向的第二方向上纵向延伸。在第一沟槽中沉积第一隔离部件。该方法还包括蚀刻栅极结构和多个沟道层以...
网页链接专利摘要显示,本申请的实施例提供了一种半导体器件及其制造方法。制造半导体器件的方法包括:提供伪结构,伪结构包括设置在衬底上方的多个沟道层、设置在多个沟道层中的相邻沟道层之间的内部间隔件、以及插入多个沟道层并沿第一方向纵向延伸的栅极结构。形成第一沟槽,第一沟槽将栅极结构划分成区段,其中,第一沟槽在垂直于第一方向的第二方向上纵向延伸。在第一沟槽中沉积第一隔离部件。该方法还包括蚀刻栅极结构和多个沟道层以...
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